- 隨機(jī)模式可測(cè)試性
- testability: 可測(cè)試性 一個(gè)系統(tǒng)或組件有利于測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)建立和確定這些標(biāo)準(zhǔn)是否被滿足的測(cè)試執(zhí)行的程度。; 可測(cè)性; 可測(cè)驗(yàn)性; 可檢測(cè)性; 可檢驗(yàn)性; 可試性; 試驗(yàn)敏感性; 試驗(yàn)性; 診斷性
- random pattern: 不規(guī)則圖案; 不規(guī)則鑲嵌; 不規(guī)則型式; 亂鋪紋樣; 任意布井井網(wǎng); 隨機(jī)模式; 隨機(jī)型式; 無(wú)規(guī)(則)晶體點(diǎn)陣, 無(wú)規(guī)圖樣; 無(wú)規(guī)則圖案; 無(wú)規(guī)則型式
- pseudo random pattern: 偽隨機(jī)模式
- pseudo random test pattern: 偽隨機(jī)測(cè)試模式
- pseudo-random test pattern: 偽隨機(jī)測(cè)試模式
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